美國(guó)Tektronix(泰克) BSA175C誤碼率測(cè)試儀為測(cè)量串行數(shù)據(jù)系統(tǒng)的信號(hào)完整性提供了全新的方式。

美國(guó)Tektronix(泰克) BSA175C誤碼率測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
?BERTScope?誤碼率測(cè)試儀系列為測(cè)量串行數(shù)據(jù)系統(tǒng)的信號(hào)完整性提供了全新的方式
?將眼圖分析與BER碼型生成結(jié)合起來，使誤碼率檢測(cè)更快、更準(zhǔn)確、更*面
?BERTScope?誤碼率測(cè)試儀系列可方便隔離問題字節(jié)和碼型序列，然后使用七種厲害誤碼分析功能，進(jìn)一步展開分析，提供前*有未的統(tǒng)計(jì)測(cè)量深度
?高達(dá)28.6 Gb/s 的碼型發(fā)生、誤碼分析和BER 測(cè)試能力
?經(jīng)校準(zhǔn)的集成經(jīng)校準(zhǔn)的集成壓力生成技術(shù)，滿足多種標(biāo)準(zhǔn)壓力接收機(jī)靈敏度和時(shí)鐘恢復(fù)抖動(dòng)容限測(cè)試要求
?擴(kuò)展頻譜時(shí)鐘
?PCIe 2.0和3.0接收機(jī)測(cè)試
?IEEE 802.3ba和32G光纖通道測(cè)試
?碼型生成和誤碼分析、高達(dá)28.6 Gb/秒的高速BER測(cè)量
?集成的壓力發(fā)生器用于受壓眼圖靈敏度(SRS)和抖動(dòng)容限一致性測(cè)試
?集成的BER關(guān)聯(lián)眼圖分析，并提供 PCI Express、USB、SATA和其他通信標(biāo)準(zhǔn)的通過/不通過模板
?在PRBS 31及高達(dá)28.6 Gb/秒的其它數(shù)字信號(hào)上進(jìn)行誤碼定位和BER輪廓分析
?選配抖動(dòng)分離及定位功能可以在 DUT 輸入上快速進(jìn)行抖動(dòng)分解，準(zhǔn)確進(jìn)行壓力校準(zhǔn)
?可選的數(shù)字預(yù)加重處理器在碼型發(fā)生器提供的數(shù)據(jù)上提供用戶控制的預(yù)加重
?可選的時(shí)鐘恢復(fù)單元提供很大 28.6 Gb/s 的時(shí)鐘恢復(fù)

美國(guó)Tektronix(泰克) BSA175C誤碼率測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
?在一臺(tái)儀器中同時(shí)提供生成和分析功能，為當(dāng)今的第三代串行和IEEE802.3ba、32GFC通信標(biāo)準(zhǔn)提供接收機(jī)BER一致性測(cè)試
?測(cè)試信號(hào)的數(shù)據(jù)速率、應(yīng)用的壓力和數(shù)據(jù)碼型都可以隨時(shí)更改且彼此獨(dú)立，允許多種信號(hào)變化來測(cè)試芯片組/系統(tǒng)靈敏度
?與其它BERT不同，提供熟悉的測(cè)試結(jié)果眼圖，并與標(biāo)準(zhǔn)特定的模板進(jìn)行對(duì)比，增強(qiáng)調(diào)試體驗(yàn)
?通過BER迅速了解信號(hào)完整性。誤碼定位提供了詳細(xì)的BER碼型靈敏度，加快了確定性與隨機(jī)性 BER 誤碼的識(shí)別
?用三角測(cè)量法快速有效地確定長(zhǎng)碼型 PRBS31 抖動(dòng)結(jié)構(gòu)圖形表示讓抖動(dòng)分析更*面、跟進(jìn)更簡(jiǎn)單
?可以使用PCI Express、10GBASE-KR、SATA、40GBASE-KR4、100GBASE-CAUI標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行測(cè)試
?根據(jù)高速串行和通信系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)行一致性測(cè)試及準(zhǔn)確的眼圖分析
?抖動(dòng)裕量(Margin)測(cè)試、抖動(dòng)容限一致性模板測(cè)試
?快速輸入上升時(shí)間/高輸入帶寬錯(cuò)誤檢測(cè)器，準(zhǔn)確分析信號(hào)完整性
?物理層測(cè)試套件，支持模板測(cè)試、抖動(dòng)峰值、BER輪廓和Q因子分析，使用標(biāo)準(zhǔn)或用戶自定義抖動(dòng)容限模板庫(kù)進(jìn)行*位測(cè)試
?集成的眼圖和BER相關(guān)分析
?專有的誤碼定位分析技術(shù)，迅速了解BER性能限制，評(píng)估確定性誤碼與隨機(jī)性誤碼
?執(zhí)行詳細(xì)的碼型相關(guān)誤碼分析，執(zhí)行誤碼突發(fā)分析或無誤碼間隔分析

美國(guó)Tektronix(泰克) BSA175C誤碼率測(cè)試儀產(chǎn)品應(yīng)用：
?設(shè)計(jì)驗(yàn)證包括信號(hào)完整性、抖動(dòng)和時(shí)序分析
?對(duì)高速串行系統(tǒng)、復(fù)雜設(shè)計(jì)的性能測(cè)試
?串行數(shù)據(jù)流和高性能網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)認(rèn)證測(cè)試
?設(shè)計(jì)/ 驗(yàn)證高速I/O 組件和系統(tǒng)
?信號(hào)完整性分析- 模板、峰值抖動(dòng)、BER 輪廓、抖動(dòng)分離及定位(Jitter Map)和Q因子分析
?設(shè)計(jì)/ 驗(yàn)證光發(fā)射接收機(jī) 

美國(guó)Tektronix(泰克) BSA175C誤碼率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：