美國AGILENT E4404B ESA-E頻譜分析儀,該產(chǎn)品采用單鍵測量解決方案,并具有易于瀏覽的用戶界面和高速測量的性能,使工程師能把較少的時間用于測試,而把更多的時間用在元件和產(chǎn)品的設計、制作和查錯上。
關鍵字:E4404B ESA-E,E4404B ESA-E頻譜分析儀,美國AGILENT頻譜分析儀
美國AGILENT E4404B ESA-E頻譜分析儀,該產(chǎn)品采用單鍵測量解決方案,并具有易于瀏覽的用戶界面和高速測量的性能,使工程師能把較少的時間用于測試,而把更多的時間用在元件和產(chǎn)品的設計、制作和查錯上。
美國AGILENT E4404B ESA-E頻譜分析儀產(chǎn)品簡介:
?在測量速度、動態(tài)范圍、精度和功率分辨能力上,都為類似價位的產(chǎn)品建立了性能標準
?它靈活的平臺設計使研發(fā)、制造和現(xiàn)場服務工程師能自定義產(chǎn)品,以滿足特定測試要求,和在需要時用新的特性升級產(chǎn)品
?該產(chǎn)品采用單鍵測量解決方案,并具有易于瀏覽的用戶界面和高速測量的性能,使工程師能把較少的時間用于測試,而把更多的時間用在元件和產(chǎn)品的設計、制作和查錯上
?0.4 dB的總體幅度精度
?比其它*有信號分析儀和頻譜分析儀快30到300%
美國AGILENT E4404B ESA-E頻譜分析儀產(chǎn)品特點:
?5 ms的標記峰值搜索速度
?+16 dBm TOI
?-167 dBm DANL,帶有內(nèi)置前置放大器
?75 ms的測量/模式切換速度
?1 Hz窄分辨率帶寬(可選)
美國AGILENT E4404B ESA-E頻譜分析儀技術參數(shù):
0.4dB的總幅度精度 | 95%的儀器的指標滿足該指標,*有儀表保證的精度為1.0dB |
保證的頻率讀出精度 | 基于內(nèi)部頻率基準 |
具有16dBmTOI的寬動態(tài)范圍 | (三階截獲)為ESA提供了*有同類分析儀中很寬的動態(tài)范圍 |
帶有內(nèi)置前置放大器的-167dBm顯示平均噪聲電平(DANL) | 高增益、低噪聲、*面經(jīng)校準的前置放大器提高了靈敏度(選件) |
寬偏移相位噪聲 | 在1MHz偏移處具有-150dBc/Hz的性能(選件) |
1ms的射頻掃描時間 | 與每秒多于45次測量相結合,幾乎提供實時更新??焖夙憫@示使電路調(diào)節(jié)方便,同時提高了截獲間歇信號的可能性 |
5分鐘預熱時間 | 僅5分鐘之后即可提供*面測量精度高速數(shù)據(jù)傳輸(GPIB)高速數(shù)據(jù)傳輸(GPIB)每秒多于45次的測量和傳輸縮短了ATE環(huán)境中的測量時間 |
可變的掃描(跡線)點 | 范圍為101~8192,使對頻率分辨率和精度與時間的關系的測量達到很好 |
窄數(shù)字分辨帶寬(RBW)的濾波器 | 增加了1、3、10、30、100、200和300Hz分辨帶寬濾波器,200Hz帶寬使用戶能進行電磁干擾(EMI)測試。9kHz和120kHzEMI帶寬是標準帶寬 |
快速時域掃描 | 在零掃寬下掃描快到2.5ns/格 |
幅度修正 | 利用內(nèi)置幅度修正系數(shù)表校準與輸出頻率相關的幅度效應。對EMC測量提供了通用的EMI修正系數(shù) |
自動背景調(diào)整 | 連續(xù)對分析儀進行校準。在溫度不斷變化的情況下確保精度 |
85~120dB的已校顯示范圍 | 能同時顯示強信號和弱信號 |
可選用的內(nèi)置跟蹤發(fā)生器 | 在單臺儀器中兼有頻譜和標量測試功能。單鍵標準化功能對測試設置進行快速校準 |
5dB步進衰減器 | 使無失真動態(tài)范圍達到很好 |
多種檢波器 | 包括峰值、RMS、平均、負峰值、采樣和可選用的準峰值檢波器 |
溫度范圍 | 在0~55°C的寬溫度范圍內(nèi)提供有保證的技術指標 |
帶有輸出的大型彩色VGA顯示器 | 16.8cm高分辨率彩色顯示器很容易進行仔細觀察。包括供外部彩色監(jiān)視器用的15針彩色VGA背面輸出連接器 |
全合成式設計 | 在整個掃描期間,提供連續(xù)鎖相的精度,確保頻率精度、穩(wěn)定性和測量的重復性,消除頻率漂移 |
搭扣電池消除 | 電源線的限制 |
橡膠包圍的前后機框 | 在現(xiàn)場中提供碰撞保護 |
防雨的前面板 | 帶有百葉窗通風孔,允許在各種氣候條件下使用 |
12Vdc電源電纜 | 允許直接用汽車和卡車電池進行工作 |
并行端口 | 提供對流行的HP打印機的輸出 |
軟盤驅(qū)動器 | 迅速而方便地將測量結果文件傳送到用戶的PC機上 |
8.0MB數(shù)據(jù)存儲 | 提供測量數(shù)據(jù)和設置的內(nèi)部存儲,供將來分析或比較使用 |